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Altis Semiconductor dispose des capacités d'analyse et d'engineering à la pointe du progrès permettant une production fiable et de rendement élevé.
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 Management des rendements et montée en volume
L'équipe d'Altis Semiconductor dédicacée au management des rendements maîtrise les technologies de pointe pour garantir une rapide montée des rendements. Toutes les techniques de contrôle les plus avancées (Cpk, contrôle des défauts, clean concept …) sont mises en œuvre. De plus, une inspection "e-beam" systématique des produits a été développée pour permettre la capture des défauts, à un niveau sans précédent. Le test final appuyé par le "data-mining" ainsi que par les techniques physiques et électriques d'analyse de défaut permettent à nos experts d'identifier les principaux détracteurs de rendement et de réagir immédiatement.
Test, caractérisation et analyse de défauts
Le centre de Test interne est un élément clé pour fournir des données fiables et rapides pour l'évaluation de la qualité des produits dans toutes leurs phases de développement, du déverminage d'un prototype au volume de production.
Le département d'analyse des défauts est indispensable pour la maîtrise des technologies et pour obtenir les meilleurs rendements le plus rapidement possible.
Notre équipe et les laboratoires de tout premier plan à notre disposition permettent analyses physiques et caractérisations fonctionnelles. SIMS, Auger, ESCA, TEMs autorisent une compréhension approfondie de la physique des pièces et des modes d'échec. La disponibilité de techniques avancées, comme par exemple l'émission de lumière avant/arrière, la détection d'éclaboussure chaude du cristal liquide, le contraste du voltage et les sondes IDS, permettent une identification rapide des défauts fonctionnels dans la partie logique ou dans la partie mémoire de la puce.
Les techniques d'analyses chimiques peuvent être mises en œuvre grâce au centre de compétence d'Air Liquide, un des partenaires stratégiques d'Altis Semiconductor installé sur le site.
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EXCELLENCE ET EXPERTISE : TIME TO YIELD